{"product_id":"9784621311356","title":"二次イオン質量分析法（第２版）（表面分析技術選書）","description":"\u003cp\u003e二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ）は、試料表面にイオンビームを照射し、飛び出した二次イオンの質量を検出して物質を同定し、さらに各物質の試料中での分布をイメージングする手法である。金属や半導体から高分子材料、生体試料にも適用できる分析法として、多くの研究分野で活用されている。２５年ぶりの大改訂となる本書では、重要性の高い基礎的な内容だけでなく、目的別の応用例を大幅に拡充。これからＳＩＭＳを使い始める学生はもちろん、現場の実務者にとっても有用な手引きとなる一冊。\u003c\/p\u003e","brand":"丸善出版","offers":[{"title":"Default Title","offer_id":48602377584875,"sku":"00000_00000_00000_00000","price":49.3,"currency_code":"SGD","in_stock":false}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0758\/4484\/5803\/files\/9784621311356-1.jpg?v=1781751159","url":"https:\/\/kinokuniya.com.sg\/products\/9784621311356","provider":"Books Kinokuniya Singapore","version":"1.0","type":"link"}