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走査プロ−ブ顕微鏡／分光法（第２版）（表面分析技術選書）

日本表面真空学会
46.80 SGD
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Product Description

試料表面の形状や性質を原子レベルで観察できる走査プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）は、その空間分解能の高さから種々の材料科学研究に活用されてきた。近年のＳＰＭ関連技術の進展は目覚ましく、局所的な電子物性や磁性、力学情報などに加え、Ｒａｍａｎ散乱や発光特性の取得、フェムト秒領域のダイナミクス計測、三次元構造の可視化なども可能となっている。本書は、こうした最新のＳＰＭ技術の全体像を、豊富な具体例を交えつつ体系的に整理。“何が観えるのか”“それをどう理解し活用するのか”といった素朴で根本的な疑問にも答えた。本分野に新たに携わろうとする学生や技術者はもちろん、第一線でＳＰＭを活用する研究者にとっても有用な一冊。

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