Einführung in die Untersuchung der Kristallgitter mit Röntgenstrahlen : Eine elementare Darlegung der Methoden mit Aufgaben (Softcover reprint of the original 1st ed. 1954. 1954. vi, 116 S. 16 SW)

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Als M. v. LAUE im Jahre 1912 die ersten Rontgenaufnahmen von Kristallen erhalten hatte, begann ein neuer Absohnitt in der Gesohiohte unserer Erkenntnis vom' Bau des Stoffes und vom Wesen der Rontgenstrahlen. Man wuBte ja damals noch nioht, daB die Rontgenstrahlen wirklioh ihrem Wesen naoh mit den Lichtstrahlen identisoh seien. Auoh die Abstande der Atome in den Kristallen waren nooh nioht bekannt. Beide Probleme fanden duroh den einen Versuch von LAUE die befriedigende, einfaohe und erschopfende Losung, die von del' damp. Iigen Generation schon sehnIichst erwartet worden war. Die seitdem ersohienenen Abhandlungen und Monographieu, in denen die neuen Erkenntnisse dargestellt sind, wurden von Physikern fiir Physiker gesohrieben. Nun haben aber die Fein strukturuntersuchungen mit Rontgenstrahlen eine breite An wendung in der Technik gefunden, so daB - iiber den Kreis der Physiker hinaus - das Eindringen in dieses Gebiet flir eine groBe Anzahl von Technikern zur Notwendigkeit geworden ist. Dieses Buch soIl den Leser fiir das Studium der Mono graphien vorbereiten. Mehr alB bisher werden die gedachten ein und zweidimensionalen Gitter behandelt, und erst im AnschluB daran wird das dreidimensionale vorgenommen. Die Betrachtung sowohl der AhnIichkeiten als auch der Unterschiede dieser drei Gitterarten erleichtert die Aneignung und das Memorieren der erforderlichen grundlegenden Kenntnisse. Es wird gezeigt, daB man mit geometrischen Konstruktionen nicht nur iibersichtlicher, sondern auch schneller als auf rechnerischem Wege zur Angabe der vorauszusehenden Verteilung von Schwarzungspunkten oder Linien auf einem Schirm oder auf einem photographischen Film kommen kann. 1. Auswahl der Streuzentren für die Sekundärstrahlung.- 2. Das primäre Parallelstrahlenbündel.- 3. Die vereinfachte Konstruktion der Wegdifferenz.- 4. Die scharfe Begrenzung der Verstärkungsrichtungen (Sekundärstrahlen).- I. Das eindimensionale Punktgitter oder Liniengitter.- Die Sekundärstrahlen bei senkrechter Inzidenz der Primärstrahlen.- Die Sekundärstrahlen bei schiefer Inzidenz.- Die geometrische Konstruktion der Sekundärstrahlen bei senkrechter Inzidenz.- Die Konstruktion der Sekundärstrahlen bei schiefer Inzidenz.- Die räumliche Verteilung der Sekundärstrahlen.- Das eindimensionale Gitter mit Basis.- II. Das zweidimensionale Punktgitter oder Kreuzgitter.- Die Entstehung diskreter Sekundärstrahlen.- Die Einföhrung des Ablenkungswinkels.- Der Abstand benachbarter Netzgeraden einer beliebigen Schar.- Die Indizierung der Netzgeraden nach Miller.- Die Indizierung der Sekundärstrahlen.- Die Indizierimg der Sekundär strahlen eines unbekannten Kreuzgitters.- Anwendungsbeispiele.- Das reziproke Kreuzgitter.- Die Anwendung des reziproken Gitters.- Geometrische Konstruktion der Sekundärstrahlen.- III. Das dreidimensionale Punktgitter oder Raumgitter.- Die Unterteilung der Raumgitter in Netzebenen.- Die Unterteilung der Raumgitter in Punktreihen.- Die formale Koordination der Wellenlänge mit der Richtung der Primär strahlen.- Das reziproke Raumgitter.- Die Eigenschaften des reziproken Raumgitters.- Vom reziproken Gitter zum Sekundärstrahl.- Die Indizierung der Sekundärstrahlen.- Das Laue-Verfahren.- Die Pulvermethode von Debye und Sciierrer.- Das Aussehen der Pulverdiagramme.- Die Anwendung der Pulveraufnahmen.- Die Bestimmung der Art der Elementarzellen im kubischen Raumgitter.- Die Drehkristallmethode.- Die asymmetrische Methode von Straumanis.- Dasfokussierende Seemann-Bohlin-Verfahren.- Die Rückstrahlkammern ohne Fokussierung.- Die Rückstrahlkammern mit Fokussierung.- Die fokussierende Ringfilmkammer von Regler.- Die Kompensationsmethode von Kossel.- Schlußwort.- II. Zur Indizierung von Drehkristallaufnahmen.- III. Die Gesamtheit der Sekundärstrahlen einer Drehkristall aufnahme.- IV. Nomogramm zu den Abbildungen der reziproken Gitter.- V. Trigonometrische Zahlen.

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