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La diffraction cohérente des rayons X : Application à l'étude de défauts topologiques dans les structures atomiques et électroniques (2010. 148 S.)

Name: La diffraction cohérente des rayons X : Application à l'étude de défauts topologiques dans les structures atomiques et électroniques (2010. 148 S.)
Brand: Omniscriptum
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Price: 109.87 SGD
Availability: InStock

Jacques, Vincent

109.87 SGD

Member Price

98.89

Quantity:

Publisher

Omniscriptum

Publication Date

Feb 2018

ISBN

9786131509230

Pages

272 p.

Item Type

Book

Format

Paperback

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